DDR -Geräte, nämlich die synchronen dynamische Zufallszugriffsspeicher von Double Data Rate, sind eine unverzichtbare Schlüsselkomponente in modernen elektronischen Geräten. DDR -Geräte werden in Computern, Servern, Kommunikationsgeräten und einem geringen Stromverbrauch mit hoher Geschwindigkeit, großer Kapazität und Unterhaltungselektronik häufig eingesetzt. Mit der schnellen Entwicklung von Wissenschaft und Technologie werden DDR -Geräte ständig aktualisiert und die Leistungsanforderungen ständig verbessert. Sein elektrischer Parametertest ist zu einem wichtigen Zusammenhang geworden, um die Produktqualität und die stabile Leistung zu gewährleisten.
Elektrische Leistungsparameter als Kernbeschreibung der Verhaltensmerkmale von DDR -Geräten in der Schaltung spiegeln die integrierte Leistung des Geräts in verschiedenen Arbeitszuständen wider. Die elektrischen Leistungsparameter von DDR -Geräten enthalten hauptsächlich Schlüsselelemente wie Arbeitsstrom, Taktfrequenz, Datenübertragungsrate und Verzögerungszeit. Diese Parameter spielen eine entscheidende Rolle bei der Leistung der DDR -Geräte.
Insbesondere hängt die Größe des Arbeitsstroms in direktem Zusammenhang mit der Anwendungsumgebung und dem Stromverbrauch des DDR -Geräts zusammen. Die Taktfrequenz- und Datenübertragungsrate bestimmen gemeinsam die Datenverarbeitungskapazität des DDR -Geräts. Die Verzögerungszeit ist ein Faktor, der die Reaktionsgeschwindigkeit und die Gesamtleistung des Systems beeinflusst.
Insbesondere zeigte dort signifikante Unterschiede in den elektrischen Leistungsparametern und den Arbeitsbedingungen. Um einen Einblick in diese Unterschiede zu erhalten, können wir uns auf die relevanten Gerätehandbücher beziehen. Die folgende Abbildung zeigt beispielsweise die Titelseite einer DDR -Gerätespezifikation. Detaillierte elektrische Leistungsparameter und Arbeitsbedingungen Informationen finden Sie im Spezifikationsbuch. Diese Informationen sind entscheidend für die richtige Auswahl und Anwendung der DDR -Geräte.
Haupttestausrüstung
V 93000- cth
Gerätefunktionen:
1. V 93000- Cth ist ein erweitertes Integrated Circuit-Automatisierungstestsystem für das Super-Scale .
2. Übernehmen Sie die erweiterte intelligenteste Softwareplattform, um den Benutzern leistungsstarke Programmier- und Testfunktionen zu bieten, wodurch die Entwicklung von Testprogrammen schneller und effizienter wird.
3. Plattform In Bezug auf die Anzahl der digitalen Testkanäle hat v 93000- Cth eine hervorragende Skalierbarkeit, die sich von 128 Kanälen auf 2048 Kanäle erweitern kann (mit 128 Kanälen als minimaler Expansionseinheit).
V. Darüber hinaus unterstützt das Gerät eine Vielzahl von Testgeschwindigkeit des Mischens der digitalen Kanalkarten, um unterschiedliche Testanforderungen zu erfüllen.
5. Effiziente Testeffizienz: V 93000- Cth hat eine ausgezeichnete Testgeschwindigkeit. Im Vergleich zu den herkömmlichen Testgeräten kann die Testaufgaben schneller erledigt werden, wodurch die Testerffizienz verbessert wird.
Testfall
Zu den verschiedenen elektrischen Parametern des DDR, den kritischen DC -Parametern, enthielten IDD 0, IDD 1 (Betrieb eines Bankstroms), IDD2 (Vorspannungsstrom), IDD3 (aktives Strom), IDD4 (Betriebsburst -Schreib-/Lesenstrahl ), IDD5, IDD6 (Aktualisierung des Stroms), IDD 7 (Betriebsbanken -Interleave -Lesestrom) und IDD 8 (Stromrom zurücksetzen) usw., von denen der kleinste Betriebsstrom normalerweise weniger als zehn Ma beträgt, kann der maximale Arbeitsstrom a erreichen a wenige hundert Milliams.
Die wichtigsten Wechselstromparameter sind TCK (System Clock), TAC (DQ -Ausgangszugriffszeit für / von CK / CK #), TDQSCK (DQS / DQS #steigen zu / aus steigenden CK / CK #) usw., die Systemuhr ist Normalerweise sind Nanosekundenparameter und die Schlüsselparameter wie TDQSCK Picosekundenverzögerungsparameter.
Die folgende Gruppe ist das schematische Diagramm des GrGTest -Tests eines bestimmten DDR -Geräts. Die entsprechende Testplatine und die Testanlage werden mit der entsprechenden konfigurierten ATE -Plattform getestet.
Links werden die Testdaten der Schlüsselparameter eines DDR -Geräts durch v 93000- cth; Rechts von rechts befindet sich die Liste der elektrischen charakteristischen Parameter in der Spezifikation des Unternehmens desselben Modells.
TEST -Fähigkeit
GrGTest führt fortschrittliche Testtechnologie und -ausrüstung im In- und Ausland ein und baut die Test- und Entwicklungsfähigkeit von Schlüsselparametern im Zusammenhang mit DDR -Geräten auf. Darüber hinaus engagiert sich GrGTest für die Entwicklung diversifizierter Geräte wie digitaler Logikchip, Hybrid -Signalchip und System -SOC -Chip, das eine starke Überprüfungsgarantie für die diversifizierte Entwicklung der chinesischen Chipindustrie bietet und die reibungslose Start von Chip -Produkten begleitet.