Screening elektronischer Komponenten

Screening elektronischer Komponenten
Informationen:
GRG Test hat ein Geschäft für die Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten aufgebaut und kann Benutzern das Testen, Bewerten und die Qualitätssicherung elektronischer Komponenten für komplette Sätze von Schemata anbieten, wobei verschiedene Screening- und Testelemente für elektronische Komponenten abgedeckt werden, wodurch nicht qualifizierte Komponenten eliminiert und die Nutzungszuverlässigkeit elektronischer Komponenten verbessert werden kann, wodurch die Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten verbessert wird.
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Beschreibung
Technische Parameter
PRODUKTBESCHREIBUNG

 

Die einmaligen Screening-Projekte und Belastungsbedingungen der Komponentenhersteller können den Anforderungen der Geräteentwicklung kaum gerecht werden. Außerdem enthalten die importierten Komponenten häufig Industrie- oder mittel- bzw. minderwertige Produkte und möglicherweise sogar Fälschungen und minderwertige Produkte, was die Gewährleistung der Qualität und Zuverlässigkeit der elektronischen Geräte erschwert.

 

Testzyklus

 

2-4 Wochen, in denen umfassende Screening- und Testdienste für elektronische Komponenten bereitgestellt werden; auch dringende Dienste sind verfügbar.

 

Produktumfang

 

Widerstand; Kondensator; magnetische Perle; Induktor; Transformator; Quarzoszillator; Quarzresonator; Relais; diskrete Halbleiterbauelemente (Diode, Triode, FET, Darlington-Array, optoelektronisches Halbleiterbauelement usw.); elektrischer Verbinder; Schalter- und Bedienfeldelemente; integrierter Halbleiterschaltkreis (Zeitbasisschaltkreis, Bustransceiver, Puffer, Treiber, Pegelumsetzer, Gate-Bauelement, Trigger, LVDS-Leitungstransceiver, Operationsverstärker, Spannungsregler, Spannungskomparator, Leistungschip (Spannungsregler, Schaltnetzteil, Leistungsmonitor, Leistungsmanagement usw.), Digital-Analog-Umsetzer (A/D, D/A, SRD), Speicher, programmierbares Logikbauelement, Einchip-Mikrocomputer, Mikroprozessor, Controller usw.); Filter; Leistungsmodul; IGBT usw.

 

Probeartikel

 

S/N Probeartikel Beispielmenge Testmethode
1 Visuelle Inspektion Auf Kundenwunsch GJB128, GJB548 usw.
2

Elektrischer Leistungstest:

Normaltemperaturtest/Hochtemperaturtest/Niedrigtemperaturtest

Auf Kundenwunsch GB- oder GJB-Testmethode
GJB33,GJB63,GJB65,GJB1042,GJB1432,GJB1648,GJB2438,GJB2138,GJB597,
……
3

Umwelt-/mechanischer Belastungstest:

Frequenzdurchlauf/zufällige Vibration, Lagerung bei niedrigen Temperaturen, Lagerung bei hohen Temperaturen, Temperaturzyklus, Temperaturschock, konstante Beschleunigung oder Fall, Versiegelung (Groblecksuche, Feinlecksuche), PIND

Auf Kundenwunsch GJB360, GJB128, GJB548,
GJB33,GJB63,GJB65,GJB1042,GJB1432,GJB1648,GJB2438,GJB2138,GJB597,
……
4 Lebensdauer/Alterung/Einbrennen Auf Kundenwunsch GJB360, GJB128, GJB548
5 Ultraschallprüfung von Chip-Bondings Auf Kundenwunsch GJB548
6 Röntgenradiographie Auf Kundenwunsch GJB360, GJB128, GJB548

 

 

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