Serviceinhalt/-umfang und Testelemente
A. TEM-Dünnschnittproben.-
Eine wichtige Anwendung der dual-strahlfokussierten Ionenstrahlmikroskopie (DB-FIB) ist die Vorbereitung ultradünner Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). GRGTEST Metrology kann für diese Anwendung die folgenden Prüfgegenstände bereitstellen:
Serviceinhalt
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Testgegenstand |
Angebotseinheit |
Probentyp |
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Probe XS auf Basis von Silizium (Si) (Querschnitt) Probenvorbereitung |
Jeder (ea) |
Fortschrittliche Prozesschips bei 14 nm und darunter; Chips bei 28 nm, 40 nm, 55 nm und höher |
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Probenvorbereitung auf Basis von Silizium (Si) PV (Draufsicht-Ansicht). |
Jeder (ea) |
Fortschrittliche Prozesschips bei 14 nm und darunter; Chips bei 28 nm, 40 nm, 55 nm und höher |
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Nicht-siliziumbasierte Probe XS (Querschnitt) Probenvorbereitung |
Stunde (h) |
Nicht-siliziumbasierte Proben, einschließlich Galliumarsenid (GaAs), Galliumnitrid (GaN), Siliziumkarbid (SiC) usw. |
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Nicht-siliziumbasierte Proben-PV (Plan-Ansicht) Probenvorbereitung |
Stunde (h) |
Nicht-siliziumbasierte Proben, einschließlich Galliumarsenid (GaAs), Galliumnitrid (GaN), Siliziumkarbid (SiC) usw. |
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Spezielle Probenvorbereitung |
Stunde (h) |
Verschiedene neue Materialproben, darunter Lithiumbatteriematerialien, Graphen-Elektrodenmaterialien usw. |
B. FA-Hotspot-Querschnittsanalyse
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Testgegenstand |
Angebotseinheit |
Probentyp |
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FA-Hotspot-Querschnittsanalyse (einschließlich Hotspots, die mit Methoden wie OBIRCH erfasst wurden; Tests aus einer Hand, einschließlich Hotspot-Erfassung, sind verfügbar) |
Stunde (h) |
Halbleiterproben: Wafer, IC, Komponenten, MEMS, Laser usw. |
C. Konventionelle Querschnittsverarbeitung
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Testgegenstand |
Angebotseinheit |
Probentyp |
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Gezielte Querschnittsverarbeitung |
Stunde (h) |
Halbleiterproben: Wafer, IC, Komponenten, PCB, MEMS, Laser usw.; Andere Nicht-Halbleiterproben |
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Nicht-gezielte Querschnittsverarbeitung- |
Stunde (h) |
Halbleiterproben: Wafer, IC, Komponenten, PCB, MEMS, Laser usw.; Andere Nicht-Halbleiterproben |
Testzyklus
Der Standardtestzyklus beträgt 3 Kalendertage. Für spezielle Anforderungen können wir Angebote mit unterschiedlichen Reaktionszeiten von 48h, 24h und 12h erstellen.
Unsere Vorteile
Die Teammitglieder von GRGTEST Measurement verfügen über einschlägige Erfahrung in fortschrittlichen Wafer-Herstellungsprozessen. Wir verfolgen einen kundenorientierten Ansatz und sind bestrebt, genaue, zeitnahe und umfassende Testdienste bereitzustellen.
GRGTEST Measurement ist das größte staatliche -eigene Drittunternehmen-, das in China börsennotiert ist. Unsere Plattform verfügt über einen soliden Verwaltungsmechanismus und umfassende -Prozesstest- und Analysefunktionen, die es uns ermöglichen, unseren Kunden zeitnahe und verlässliche Analysen für komplette Projekte bereitzustellen.
Probenanforderungen
Wasserfrei; Proben dürfen keine flüssigen Bestandteile enthalten; stabil unter Bestrahlung mit Ionenstrahlen (einige organische Proben können nicht nachgewiesen werden); Abmessungen im Allgemeinen nicht größer als 10 cm x 10 cm x 5 cm (Länge x Breite x Höhe).
Beliebte label: db-fib (Dual-Beam Focused Ion Beam), China db-fib (Dual-Beam Focused Ion Beam) Dienstleister
