Serviceinhalte
TEM (helle-Feldbilder, Off-Achsen-dunkle-Feldbilder, mittlere dunkle-Feldbilder, hoch-aufgelöste Bilder, schwache-Strahl-dunkle-Feldbilder); STEM (HAADF-Bilder, DF-Bilder, BF-Bilder, EDS-Energiespektren, iDPC-Bilder); Beugung (selektive Beugung, konvergente Strahlbeugung, Nanostrahlbeugung)
Grad der Dienstleistung
Chip{0}}bezogene Sektoren (Waferfabriken, Hersteller von Halbleiterausrüstung, Chipdesignunternehmen usw.); Werkstoffbezogene-Sektoren (Universitäten, Forschungsinstitute und Werkstoff-F&E-Unternehmen).
Testzyklus
Typische Bearbeitungszeit: 5-7 Werktage.
Service-Hintergrund
Angesichts der verschärften Technologieblockaden im Ausland legen inländische High-{0}}Unternehmen mehr Wert auf unabhängige Chip-F&E-Fähigkeiten, was zu einem inländischen Produktionsboom für Halbleiterausrüstung geführt hat. Da die Chipherstellungsprozesse immer kleiner werden, stützt sich die Entwicklung von Chips und Halbleitergeräten zunehmend auf mikroskopische Analysewerkzeuge wie TEM. Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) spielt in der Materialforschung und -entwicklung eine unverzichtbare Rolle. Es liefert wichtige mikroskopische Strukturinformationen-einschließlich Kristallstrukturen, Defekte, Elementzusammensetzungen und Konzentrationen-, die bei der Analyse von Materialeigenschaften und -verhalten hilfreich sind. Auch die Technik
erleichtert Studien zu Phasenübergängen und Diffusionsprozessen und bietet wertvolle Erkenntnisse für Materialdesign und -optimierung.
Unsere Vorteile
Guangdian Metrology ist auf TEM-Analysetesttechnologie spezialisiert und verfügt über ein branchenführendes Expertenteam und fortschrittliche TEM-Analysegeräte (Talos F200X G2). Wir bieten maßgeschneiderte TEM-Analysetestlösungen, die auf die F&E-Anforderungen verschiedener Kunden zugeschnitten sind. Unser Unternehmen verfügt über FIB-TEM-Analysefunktionen für fortgeschrittene Prozesse bis zu 7 nm und darunter.
Fallanteil
Beliebte label: Tem-Bildgebung und Analyse, chinesischer Tem-Bildgebungs- und Analysedienstleister
